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產品詳細頁
高低頻介電常數分析儀
- 產品型號：GCSTD-D
- 更新時間：2024-11-30
- 產品介紹：GCSTD-D高低頻介電常數分析儀滿足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的推薦方法GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方法 ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的（恒久電介質）的交流損耗特性和介電常數的測試方法
- 在線留言 010-57223836/57223838
產品介紹
半導體元件：變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數分析
其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估
介質材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
半導體材料：半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性
液晶材料：液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性
測試電橋參數
測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
測試頻率 20 Hz～2MHz,10mHz步進
測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）
平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)
輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本準確度 0.1%
L 0.0001 uH ～ 9.9999kH
C 0.0001 pF ～ 9.9999F
R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ
公司以精美的產品、精良的品質、精心的服務贏得了廣大用戶和市場，擁有一大批國內外科研院所及企業用戶。
服務：具有完備的售后服務體系
技術：自主研發+高校實驗室聯合開發
品質：對產品的精益追求+嚴格規范的測試
價格：科學的管理成本+高效率合作降低成本
客戶：大中院校+科研機構+質檢部門+實驗室等
GCSTD-D高低頻介電常數分析儀
四種信號源輸出阻抗
10點列表掃描測試功能
內部自帶直流偏置源
外置偏流源至40A（配置兩臺TH1776）（選件）
電壓或電流的自動電平調整（ALC）功能
V、1測試信號電平監視功能
圖形掃描分析功能
20組內部儀器設定可供儲存／讀取
GCSTD-D高低頻介電常數分析儀
